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Zhang, Yujiao ; Ruan, Jiangjun ; Liao, Junpeng ; [weitere]

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) ; 2013

In: IEEE Transactions on Plasma Science Vol. 41, No. 5 ( 2013-05), p. 1421-1425

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Details

In: IEEE Transactions on Plasma Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Vol. 41, No. 5 ( 2013-05), p. 1421-1425

Materialart: Online-Ressource

ISSN: 0093-3813 , 1939-9375

URL: Article

DOI: 10.1109/TPS.2013.2246821

Sprache: Unbekannt

Verlag: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Publikationsdatum: 2013

ZDB Id: 2025402-7

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