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Comparison of Correction Techniques for the Spillin Effect in Emission Tomography

Akerele, Mercy I. ; Karakatsanis, Nicolas A. ; Deidda, Daniel ; [weitere]

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) ; 2020

In: IEEE Transactions on Radiation and Plasma Medical Sciences Vol. 4, No. 4 ( 2020-7), p. 422-432

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Details

In: IEEE Transactions on Radiation and Plasma Medical Sciences, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Vol. 4, No. 4 ( 2020-7), p. 422-432

Materialart: Online-Ressource

ISSN: 2469-7311 , 2469-7303

URL: Journal

URL: Article

DOI: 10.1109/TRPMS

DOI: 10.1109/TRPMS.2020.2980443

Sprache: Unbekannt

Verlag: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Publikationsdatum: 2020

ZDB Id: 2867672-5

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