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A built-in self-repair design for RAMs with 2-D redundancy

Jin-Fu Li ; Yeh, J.-C. ; Rei-Fu Huang ; [weitere]

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) ; 2005

In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems Vol. 13, No. 6 ( 2005-06), p. 742-745

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Details

In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Vol. 13, No. 6 ( 2005-06), p. 742-745

Materialart: Online-Ressource

ISSN: 1063-8210 , 1557-9999

URL: Article

DOI: 10.1109/TVLSI.2005.848824

Sprache: Unbekannt

Verlag: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Publikationsdatum: 2005

ZDB Id: 2034318-8

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