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Effect of thickness of a-Si remain on TFT characteristics

TIAN Mao-kun, 田茂坤 ; HUANG Zhong-hao, 黄中浩 ; CHEN Wei, 谌伟 ; [weitere]

Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Academy of Sciences ; 2019

In: Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays Vol. 34, No. 7 ( 2019), p. 646-651

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Details

In: Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays, Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Academy of Sciences, Vol. 34, No. 7 ( 2019), p. 646-651

Materialart: Online-Ressource

ISSN: 1007-2780

Originaltitel: a-Si剩余膜厚对TFT特性的影响

URL: Issue

URL: Journal

URL: Article

DOI: 10.3788/YJYXS/2019/34/7

DOI: 10.3788/YJYXS

DOI: 10.3788/YJYXS20193407.0646

Sprache: Englisch , Chinesisch

Verlag: Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Academy of Sciences

Publikationsdatum: 2019

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