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Failure Analysis of Light Emitting Diode Based on Microscopic Infrared Hot Spot Location System

ZHANG Huai-yang, 张槐洋 ; WEN Shang-sheng, 文尚胜 ; FANG Fang, 方方 ; [weitere]

Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Academy of Sciences ; 2019

In: Chinese Journal of Luminescence Vol. 40, No. 9 ( 2019), p. 1185-1191

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Details

In: Chinese Journal of Luminescence, Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Academy of Sciences, Vol. 40, No. 9 ( 2019), p. 1185-1191

Materialart: Online-Ressource

ISSN: 1000-7032

Originaltitel: 基于显微红外热点定位系统的发光二极管失效分析

URL: Issue

URL: Journal

URL: Article

DOI: 10.3788/fgxb/2019/40/9

DOI: 10.3788/fgxb

DOI: 10.3788/fgxb20194009.1185

Sprache: Englisch , Chinesisch

Verlag: Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Academy of Sciences

Publikationsdatum: 2019

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