In:
ACTA PHOTONICA SINICA, Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, Vol. 48, No. 12 ( 2019), p. 1248001-1248001
Materialart:
Online-Ressource
ISSN:
1004-4213
Originaltitel:
SOI基高响应度TFET探测器的设计与仿真
DOI:
10.3788/gzxb/2019/48/12
DOI:
10.3788/gzxb20194812.1248001
Sprache:
Englisch
,
Chinesisch
Verlag:
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics
Publikationsdatum:
2019