UID:
almahu_9948192617602882
Format:
VI, 206 S.
,
online resource.
Edition:
1st ed. 1984.
ISBN:
9783642932571
Note:
1. Einleitung -- 2. Fehler in Mikrocomputerkomponenten -- 2.1 Fehlerursachen bei hochintegrierten MOS-Schltkreisen -- 2.2 Fehlerursachen bei bipolaren Schaltkreisen -- 2.3 Klassifizierung der Fehlerarten -- 2.4 Funktionsspezifische Ausfallursachen -- 3. Qualitätssicherung -- 3.1 Berechnung der Zuverlässigkeit von Bauelementen -- 3.2 Berechnung der Ausfallraten von LSI-Chips anhand des Integrationsgrads -- 3.3 Zeitabhängigkeit der Ausfallrate -- 3.4 Temperaturabhängigkeit der Ausfallrate -- 3.5 Zuverlässigkeitsvorhersage nach MIL-HDBK-217B -- 3.6 Bestimmen der Ausfallraten integrierter Bauteile durch Materialprüfungen -- 3.7 Fehlerraten von Mikrocomputerelementen -- 3.8 Stichprobenprüfungen -- 4. Testverfahren bei integrierten Schaltkreisen -- 4.1 Bausteintest -- 4.2 Testfreundliche Strukturen -- 4.3 Testverfahren bei Mikroprozessorsystemen -- 5. Der Einfluß des Hardwareentwurfs auf die Systemzuverlässigkeit -- 5.1 Zusammenschalten von Bauteilen -- 5.2 Probleme bei der Stromversorgung -- 5.3 Probleme bei Leitungen -- 5.4 Spezielle Probleme mit Schaltkreisen -- 6. Der Einfluß des Softwareentwurfs auf die Systemzuverlässigkeit -- 6.1 Strukturierte Programmierung -- 6.2 Testmustererzeugung -- 6.3 Programmredundanz -- 7. Redundanztechniken -- 7.1 Grundlagen -- 7.2 Methoden zur Fehlererkennung -- 7.3 Statische Redundanz -- 7.4 Dynamische Redundanz -- 7.5 Hybride Redundanz -- 7.6 Vergleich der Redundanzverfahren -- 8. Fehlererkennende und -korrigierende Codes -- 8.1 Zuverlässigkeitsberechnung von Halbleiterspeichem -- 8.2 Grundlagen fehlererkennender und -korrigierender Codes -- 8.3 Codierverfahren für parallele Datenübertragung und Speicherung -- 8.4 Codierverfahren für serielle Datenübertragung und Speicherung -- Stichwortverzeichnis.
In:
Springer eBooks
Additional Edition:
Printed edition: ISBN 9783540129967
Language:
German
DOI:
10.1007/978-3-642-93257-1
URL:
https://doi.org/10.1007/978-3-642-93257-1
