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    Online-Ressource
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    Entwicklung eines Röntgenmikroskops für Photonenenergien von 15 keV bis 30 keV (2014)
    KIT Scientific Publishing
    Details
    UID:
    almahu_9949711245902882
    Umfang: 1 electronic resource (IX, 126 p. p.)
    ISBN: 1000043064
    Serie: Schriften des Instituts für Mikrostrukturtechnik am Karlsruher Institut für Technologie / Hrsg.: Institut für Mikrostrukturtechnik
    Inhalt: In many research areas X-rays are used for analysis. In X-ray full field microscopy a high resolution is achievable independent of the source properties by using imaging lenses. With an objective lens with 100 mm focal length a theoretical resolution of 60nm is achievable at 30 keV. In Experiments a resolution of 200 nm for a field of view of 80 µm
    Anmerkung: German
    Weitere Ausg.: ISBN 3-7315-0263-1
    Sprache: Deutsch
    Bibliothek Standort Signatur Band/Heft/Jahr Verfügbarkeit
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