Format:
X, 124 S.
,
Ill., graph. Darst.
Edition:
Als Ms. gedr.
ISBN:
3183524082
Series Statement:
Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI / 8] 524
Note:
Zugl.: Duisburg, Univ., Diss., 1995
Language:
German
Subjects:
Engineering
Keywords:
Integrierte Schaltung
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Testbarkeit
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Rasterkraftmikroskopie
;
Fehlererkennung
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Analoge integrierte Schaltung
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VLSI
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Elektrische Eigenschaft
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Testbarkeit
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Rasterkraftmikroskopie
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Fehlererkennung
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Digitale integrierte Schaltung
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VLSI
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Elektrische Eigenschaft
;
Testbarkeit
;
Rasterkraftmikroskopie
;
Fehlererkennung
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Hochschulschrift
;
Hochschulschrift