Format:
IV, 159 S.
,
zahlr. graph. Darst.
Note:
Erlangen-Nürnberg, Univ., Diss., 1996
Language:
German
Subjects:
Chemistry/Pharmacy
,
Physics
Keywords:
Silicium
;
Grenzfläche
;
Kohlenstoff
;
Amorpher Zustand
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Elektronische Eigenschaft
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Photoelektronenspektroskopie
;
Hochschulschrift