Format:
XIV, 527 S.
,
Ill., graph. Darst.
Edition:
2., completely rev. and updated ed.
ISBN:
3540639764
,
9783540639763
Series Statement:
Springer series in optical sciences 45
Additional Edition:
Erscheint auch als Online-Ausgabe ISBN 978-3-540-38967-5
Language:
German
Subjects:
Physics
Keywords:
Rasterelektronenmikroskopie