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Buch

Digital systems testing and testable design (1990)

Abramovici, Miron [Verfasser] ; Breuer, Melvin A. [Verfasser] ; Friedman, Arthur D. [Verfasser]

New York : IEEE Press

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Details

UID:

b3kat_BV012266736

Umfang: XVII, 652 S. , graph. Darst.

Ausgabe: Rev. print.

ISBN: 0780310624

Serie: Electrical engineering, circuits and systems, computers

Sprache: Englisch

Fachgebiete: Technik

RVK:

ZN 5680

Schlagwort(e): Digitales System ; Prüftechnik ; Digitales System ; Testbarkeit ; Prüftechnik ; Schaltungsentwurf ; Prüftechnik ; VLSI ; Digitales System ; Prüfung ; Prüfung ; VLSI ; Fehlererkennung ; Digitaltechnik ; Computersimulation ; Testkonstruktion

Bibliothek	Standort	Signatur	Band/Heft/Jahr	Verfügbarkeit

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