Format:
1 Online-Ressource
ISBN:
9783642352676
,
9783642352669
Series Statement:
Communications in Computer and Information Science 340
Language:
English
Subjects:
Computer Science
Keywords:
Software Engineering
;
Softwaretest
;
Zuverlässigkeit
;
Fehlertoleranz
;
Operationelles Risiko
;
Risikomanagement
;
Wiederherstellung
;
Kritische Infrastruktur
;
Datensicherung
;
Anwendungssystem
;
Konferenzschrift
DOI:
10.1007/978-3-642-35267-6
Author information:
Kim, T'ae-hun