Format:
XI, 338 S.
,
Ill., graph. Darst.
ISBN:
9783642175770
Series Statement:
Communications in computer and information science 117
Language:
English
Keywords:
Softwareentwicklung
;
Zuverlässigkeit
;
Qualitätssicherung
;
Softwaremetrie
;
Requirements engineering
;
Anwendungssoftware
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Softwaretest
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Debugging
;
Software Engineering
;
Konferenzschrift
;
Konferenzschrift
;
Kongress
;
Konferenzschrift
Author information:
Kim, T'ae-hun