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    Online Resource
    Online Resource
    Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg
    UID:
    gbv_1649979606
    Format: Online-Ressource (X, 518S, digital)
    ISBN: 9783642054631
    Series Statement: SpringerLink
    Content: Problematik -- Untersuchungsgegenstand -- Struktur metallischer Werkstoffe -- Elastische Verformung -- Plastische Verformung -- Schädigung -- Experimentelle Untersuchungsmethoden -- Experimentelle Ergebnisse -- Schlussfolgerungen und zukünftige Herausforderungen.
    Content: Im Mittelpunkt stehen Zuverlässigkeits- und Lebensdauerfragen mikroskopisch kleiner Bauteilstrukturen, wie sie in der Aubau- und Verbindungstechnik der Mikroelektronik bzw. Mikrosystemtechnik typisch sind. Das Buch zeichnet sich durch eine systematische und detaillierte Darstellung des mikrostrukturellen Aufbaus von Werkstoffen, der Werkstoffverformung und der Materialschädigung aus. Dabei überzeugt es durch eine verständliche und übersichtliche Darstellung der fundamentalen Ursache-Wirkung-Beziehungen. Der Autor beschreibt die Prinzipien der Aufbau- und Verbindungstechnik der Mikroelektronik und geht auf die Besonderheiten der Werkstoffforschung im Mikrobereich ein. Hierfür stellt er spezielle Untersuchungsmethoden und konkrete Versuchsergebnisse vor und leitet Schlussfolgerungen bezüglich der Werkstoffmodellierung sowie der entwicklungsbegleitenden Materialuntersuchung ab. An vielen konkreten Beispielen werden die methodischen Besonderheiten im Mikrobereich gegenüber der klassischen Werkstoffprüfung erläutert.
    Additional Edition: ISBN 9783642054624
    Additional Edition: Buchausg. u.d.T. Wiese, Steffen, 1970 - Verformung und Schädigung von Werkstoffen der Aufbau- und Verbindungstechnik Berlin : Springer, 2010 ISBN 9783642054624
    Language: German
    Subjects: Physics
    RVK:
    Keywords: Mikroelektronik ; Verbindungstechnik ; Werkstoffprüfung ; Miniaturisierung ; Deformationsverhalten ; Werkstoffschädigung
    URL: Volltext  (lizenzpflichtig)
    Library Location Call Number Volume/Issue/Year Availability
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