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26th IEEE VLSI Test Symposium, 2008 : VTS 2008 ; April 27, 2008 - May 1, 2008, San Diego, California ; proceedings (2008)

IEEE Computer Society Test Technology Technical Council

Los Alamitos, Calif. [u.a.] : IEEE Computer Society

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Details

UID:

gbv_572221045

Umfang: Online-Ressource (XXX, 413 S.)

ISBN: 9780769531236 , 0769531237 , 9780769531236

Anmerkung: "IEEE Computer Society Order Number P3123"--Title page verso , "BMS part no. CFP08029-PRT"--Title page verso , Includes bibliographical references and author index , Parallel als Buch-Ausg. erschienen

Sprache: Englisch

Schlagwort(e): VLSI ; Konferenzschrift

URL: Volltext

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