Format:
Online-Ressource
ISBN:
9781424420391
,
1424420393
,
9781424420391
Note:
Parallel als Druckausg. erschienen
Additional Edition:
Erscheint auch als Druck-Ausgabe International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (15th : 2008 : Singapore) Proceeding of the 15th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits Piscataway, NJ : IEEE Reliability Society, ©2008
Language:
English
Keywords:
Konferenzschrift