UID:
kobvindex_ZLB13362170
Format:
XXXIII, 503 Seiten
,
graph. Darst.
,
26 cm
ISBN:
3764342099
,
0817642099
Series Statement:
Statistics for industry and technology
Note:
Literaturangaben
Language:
English
Keywords:
Statistischer Test
;
Kongress
;
Paris 〈2000〉
;
Statistisches Modell
;
Validität
;
Kongress
;
Paris 〈2000〉
;
Kongress
;
Konferenzschrift