Umfang:
XXVIII, 1148 S.
,
Ill., zahlr. graph. Darst.
,
24 cm
ISBN:
3540242678
Sprache:
Englisch
Fachgebiete:
Technik
Schlagwort(e):
Nanostruktur
;
Tribologie
;
Rastersondenmikroskopie
;
Nanostruktur
;
Mechanische Eigenschaft
;
Rastersondenmikroskopie
;
MEMS
;
Tribologie
;
Rastersondenmikroskopie
;
MEMS
;
Mechanische Eigenschaft
;
Rastersondenmikroskopie
URL:
http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0663/2004117507-d.html
URL:
http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0818/2004117507-b.html
URL:
http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0818/2004117507-t.html
Mehr zum Autor:
Bhushan, Bharat 1949-