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Microscopy of Semiconducting Materials : Proceedings of the 14th Conference, April 11 - 14, 2005, Oxford, UK (2005)

Cullis, Anthony G. [Sonstige] ; Hutchison, J. L. [Sonstige]

Berlin [u.a.] : Springer

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Details

UID:

b3kat_BV036650697

Umfang: 1 Online-Ressource

Ausgabe: Online_Ausgabe Berlin [u.a.] Springer 2005 Springer ebook collection / Chemistry and Materials Science 2005-2008 Sonstige Standardnummer des Gesamttitels: 041171-1

ISBN: 9783540319153

Serie: Springer Proceedings in Physics 107

Weitere Ausg.: Reproduktion von Microscopy of Semiconducting Materials 2005

Weitere Ausg.: Erscheint auch als Druckausgabe ISBN 978-3-540-31914-6

Sprache: Englisch

Schlagwort(e): Halbleiter ; Mikroskopie ; Konferenzschrift

DOI: 10.1007/3-540-31915-8

URL: Volltext

Bibliothek	Standort	Signatur	Band/Heft/Jahr	Verfügbarkeit

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