Umfang:
126 S.
,
Ill., graph. Darst.
,
21 cm, 189 g
ISBN:
9783844030563
Serie:
Berichte aus der Informatik
Anmerkung:
Zugl.: Erlangen-Nürnberg, Univ., Diss., 2013
Weitere Ausg.:
Erscheint auch als Online-Ausgabe Ernst, Jan The Trace Model for Spatial Invariance with Applications in Structured Pattern Recognition, Image Patch Matching and Incremental Visual Tracking
Sprache:
Englisch
Schlagwort(e):
Maschinelles Sehen
;
Signaldarstellung
;
Verzerrung
;
Invarianz
;
Topologie
;
Homöomorphismus
;
Nachbarschaftsraum
;
Mustererkennung
;
Regionenorientierte Segmentierung
;
Objektverfolgung
;
Hochschulschrift