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    Berlin ;Boston :De Gruyter,
    UID:
    edocfu_9958354178202883
    Umfang: 1 online resource(x,168p.) : , illustrations.
    Ausgabe: Electronic reproduction. Berlin/Boston : De Gruyter. Mode of access: World Wide Web.
    Ausgabe: System requirements: Web browser.
    Ausgabe: Access may be restricted to users at subscribing institutions.
    ISBN: 9783110305012
    Inhalt: High-resolution electron microscopy allows the imaging of the crystallographic structure of a sample at an atomic scale. It is a valuable tool to study nanoscale properties of crystalline materials such as superconductors, semiconductors, solar cells, zeolite materials, carbon nanomaterials or BN nanotubes.
    Anmerkung: Frontmatter -- , Preface -- , Contents -- , 1 Introduction -- , 2 Structure and principle of electron microscopes -- , 3 Practice of HREM -- , 4 Characterization by HREM -- , 5 Electron diffraction analysis of nanostructured materials -- , 6 HREM analysis of nanostructured materials -- , A Appendix -- , Index. , Also available in print edition. , In English.
    Weitere Ausg.: ISBN 9783110304725
    Weitere Ausg.: ISBN 9783110305029
    Sprache: Englisch
    Bibliothek Standort Signatur Band/Heft/Jahr Verfügbarkeit
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