Umfang:
Online-Ressource (XV, 444 S. 217 Abb, digital)
Ausgabe:
9., überarb. Aufl. 2013
ISBN:
9783642300745
Serie:
SpringerLink
Inhalt:
Messsysteme und Messfehler -- Kurvenanpassung -- Stationäres Verhalten von Messsystemen -- Dynamisches Verhalten von Messsystemen -- Zufällige Messfehler -- Korrelationsmesstechnik -- Erfassung amplitudenanaloger Signale -- Erfassung frequenzanaloger Signale -- Symbole -- Literaturverzeichnis -- Index.
Inhalt:
Dieses Lehrbuch für Studierende der Ingenieurwissenschaften und der Informatik überzeugt durch sein didaktisches Konzept. Es behandelt die systemtheoretischen Grundlagen der Messtechnik. Dabei werden die allen Messsystemen gemeinsamen Verfahren in den Vordergrund gestellt. Der Inhalt des Buches umfasst - die Beschreibung des physikalischen Verhaltens von Messsystemen durch ein mathematisches Modell, - die Verbesserung der statischen und dynamischen Eigenschaften von Messsystemen, - die Messung stochastischer Größen, - die rechnergestützte Messdatenerfassung und -verarbeitung sowie - die Erfassung frequenzanaloger Signale. Die 9. Auflage wurde überarbeitet, inhaltlich ergänzt und didaktisch verbessert. Neue Beispiele verdeutlichen den Bezug zur Praxis. Zusätzlich werden Matlab-gestützte Übungen angeboten. Dozenten können für ihre Vorlesungen Folien herunterladen.
Anmerkung:
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Vorwort; Vorwort zur 8. Auflage; Inhaltsverzeichnis; Kapitel 1; 1 Messsysteme und Messfehler; 1.1 Messskalen; 1.2 Metrische Größen; 1.2.1 Einheitensystem; 1.2.2 Anpassung der Definitionen der Einheiten; 1.3 Messsysteme; 1.3.1 Struktur von Messsystemen; 1.3.2 Beschreibung von Messsystemen im Zustandsraum; 1.3.3 Physikalische Messkennlinie; 1.3.4 Messsignale als Informationsträger; 1.4 Messfehler; 1.4.1 Absoluter und relativer Fehler; 1.4.2 Fehlerursachen; 1.4.3 Spezifizierte Normalbedingungen; Kapitel 2; 2 Kurvenanpassung; 2.1 Approximation
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2.1.1 Approximation mit orthonormalen Funktionensystemen2.1.2 Least-Squares-Schätzer; 2.1.3 Regressionsanalyse; 2.2 Interpolation; 2.2.1 Polynominterpolation; 2.2.2 Interpolation durch Lagrange-Polynome; 2.2.3 Interpolation durch Newton-Polynome; 2.2.4 Spline-Interpolation; 2.2.5 Systemtheoretische Deutung der Interpolation; 2.3 Kennfeldinterpolation; Kapitel 3; 3 Stationäres Verhalten von Messsystemen; 3.1 Stationäre Messkennlinie und deren Fehler; 3.1.1 Ideale und reale Messkennlinie; 3.1.2 Abgleich der Messkennlinie; 3.1.3 Kennlinienfehler bei realer Kennlinie
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3.1.4 Abschätzung des Kennlinienfehlers3.2 Kennlinienfehler unter Normalbedingungen; 3.2.1 Herabsetzen des Messbereichs; 3.2.2 Reihenschaltung zweier nichtlinearer Glieder; 3.2.3 Wahl des günstigsten Messbereichs; 3.2.4 Differenzmethode; 3.2.5 Gegenkopplung; 3.3 Kennlinienfehler bei Abweichungen von den Normalbedingungen; 3.3.1 Superponierende Störgrößen; 3.3.2 Unterdrückung superponierender Störgrößen mit der Differenzmethode; 3.3.3 Deformierende Störgrößen; 3.3.4 Deformierende Störgrößen bei Gegenkopplung; 3.3.5 Superponierende Störgrößen bei Gegenkopplung
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3.3.6 Kompensation systematischer Störeinflüsse3.3.7 Abschirmung; 3.3.8 Superponierende Störgrößen in Messketten; 3.3.9 Zerhackerverstärker; 3.4 Rückwirkung des Messsystems; Kapitel 4; 4 Zufällige Messfehler; 4.1 Grundlagen der Wahrscheinlichkeitstheorie; 4.1.1 Wahrscheinlichkeitsdichte; 4.1.2 Wahrscheinlichkeitsdichten abgebildeter Größen; 4.1.3 Momente der Statistik 1. Ordnung; 4.1.4 Momente der Statistik 2. Ordnung; 4.1.5 Korrelationskoeffizient; 4.1.6 Charakteristische Funktion; 4.2 Stichproben; 4.2.1 Häufigkeitsverteilung und Histogramm; 4.2.2 Stichprobenmittelwert
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4.2.3 Stichprobenvarianz4.2.4 Gesetz der großen Zahlen; 4.2.5 Mittelung zur Störungsunterdrückung; 4.3 Normalverteilte Zufallsvariable; 4.3.1 Normalverteilung; 4.3.2 Zentraler Grenzwertsatz; 4.3.3 χ2-Verteilung; 4.3.4 Student'sche t-Verteilung; 4.4 Statistische Testverfahren; 4.4.1 Konfidenzintervall und statistische Sicherheit; 4.4.2 Hypothesen und statistische Tests; 4.4.3 Signifikanztest für den Stichprobenmittelwert; 4.4.4 χ2-Anpassungstest; 4.5 Qualitätssicherung; 4.5.1 Beurteilung von Fertigungsprozessen; 4.5.2 Bestimmung der Ausfallrate; 4.5.3 Statistische Prozessüberwachung
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4.6 Fehlerfortpflanzung
Weitere Ausg.:
ISBN 9783642300738
Weitere Ausg.:
Buchausg. u.d.T. Puente León, Fernando, 1969 - 2020 Messtechnik Berlin : Springer Vieweg, 2012 ISBN 3642300731
Weitere Ausg.:
ISBN 9783642300738
Sprache:
Deutsch
Fachgebiete:
Technik
Schlagwort(e):
Messtechnik
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Messsystem
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Messtechnik
;
Messsystem
;
Lehrbuch
DOI:
10.1007/978-3-642-30074-5
URL:
Volltext
(lizenzpflichtig)
Mehr zum Autor:
Puente León, Fernando 1969-2020
Mehr zum Autor:
Kiencke, Uwe 1943-
