Format:
XVIII, 352 S. :
,
Ill.
ISBN:
0-444-00989-2
Subjects:
Chemistry/Pharmacy
,
Physics
Keywords:
Spektroskopie
;
Oberfläche
;
Dünne Schicht
;
Massenspektrometrie
;
Elektronen-Energieverlustspektroskopie
;
Struktur
;
EXAFS
;
Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
;
Auger-Spektroskopie
Author information:
Mayer, James W., 1930-2013.