Format:
XXIII, 652 S. :
,
Ill., graph. Darst.
ISBN:
0-7503-0255-0
Series Statement:
Institute of Physics 〈London〉: Institute of Physics conference series 130
Language:
English
Subjects:
Physics
Keywords:
Röntgenoptik
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Elektronenstrahlmikroanalyse
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Röntgenoptik
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Mikroanalyse
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Mikrostruktur
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Röntgenfeinstrukturanalyse
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Konferenzschrift
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Konferenzschrift