Format:
217 S. : Ill., graph. Darst.
Note:
Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1996. - Auch als: Berichte des Forschungszentrums Jülich. 3324
Language:
German
Keywords:
Elektronenmikroskopie
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Hochauflösendes Verfahren
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Phasenrekonstruktion
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Kristallpotenzial
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Rekonstruktion
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Galliumarsenid
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Indiumarsenid
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Übergitter
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Relaxation
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Elektronenmikroskopie
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Hochschulschrift