Format:
XII, 542 S.
,
Ill., graph. Darst.
ISBN:
3527405461
Note:
Literaturverz. S. 463 - 511
Language:
English
Subjects:
Physics
Keywords:
Holographische Interferometrie
;
Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung
;
Holographische Interferometrie
;
Spannungsanalyse
Author information:
Kreis, Thomas 1952-