Format:
X, 193 S.
ISBN:
0898381851
Series Statement:
Kluwer international series in engineering and computer science 19
Note:
Zugl.: Stanford, Calif., Univ., Thesis
Language:
English
Subjects:
Computer Science
Keywords:
Integrierte Schaltung
;
Prüfung
;
Künstliche Intelligenz
;
Testmustergenerierung
;
VLSI
;
Expertensystem
;
Hochschulschrift